| P图 |
追踪不合格产品百分比的控制图。P图用于属性数据。 |
| R图 |
追踪样本极差随时间变化的控制图。R图用于变量数据。 |
| 一般原因 |
正常和期望变化的原因。一般原因是可以随时间预测的，并产生正态分布。 |
| 中线 |
控制图上表示过程均值的水平线。 |
| 公差 |
表示对要求尺寸不期望的，但可以接受的偏差的图纸标注。 |
| 关键质量指标 |
对客户满意度有极大影响的产品可测指标。关键质量指标是SPC的关键。 |
| 内部客户 |
公司内参与满足外部客户需求的部门或个人。 |
| 千分尺 |
一种带有螺杆的U形测量仪器，其螺杆可逐渐移向小砧。千分尺可以测量各种数值型的尺寸和要素。 |
| 反常变化 |
由一种或多种原因引起的使过程发生根本性改变的变化。非常变化不是期望的。 |
| 变化 |
两个或多个相似事物间的区别。 |
| 变量数据 |
包含一系列数值的数据，大多数测量值会产生变量数据。 |
| 外部客户 |
从制造商处接受产品或服务的组织或个人。 |
| 属性数据 |
表示特征是否存在的数据。通过/不通过塞规或部件是否存在等等，都是属性数据。 |
| 总平均值 |
样本均值的平均值。总平均值是 图的中线。 |
| 控制上限 |
表示最大容许值界限的控制限。 |
| 控制下限 |
表示最小容许值界限的控制限。 |
| 控制图 |
在SPC中绘制数据并提供过程随时间的执行情况的图表。 |
| 控制限 |
在控制图上表示过程界限的水平线。如果超出控制限，过程即为失控。 |
| 正常变化 |
正常的期望的变化。正常变化是可以随时间预测的。 |
| 正态分布 |
对称分布在平均值附近的变量数据。绘制到图形上，正态分布表现为钟形曲线。在控制中的过程会产生正态分布。 |
| 特殊原因 |
使过程发生根本变化的原因。特殊原因会影响正态分布，因此不是期望的。 |
| 统计学 |
收集、概括和分析数据的学科。统计学可以预测事件发生的可能性。 |
| 统计过程控制 |
通过统计学和控制图的应用，测量关键质量指标和控制过程的执行。SPC可以将变化中的特殊原因从一般原因中分离。 |
| 西格玛 |
标准偏差的单位，表示一系列测量值的离散程度。 |
| 质量 |
客户要求的满足。合格的产品符合规格要求，没有缺陷，并能满足预期的用途。 |
| 过程 |
将资源由输入转化为输出的一系列活动。过程在本质上就是“完成产品”的途径。 |
| 过程控制 |
在去除特殊原因后过程中的变化范围。 |
| 过程能力 |
过程中变化的总范围，包括一般原因和特殊原因。 |
| 钟形曲线 |
根据变量数据绘制出的图形，其特征包括位于高处的中心顶点，锥形侧边和钟口形边缘。钟形曲线反映了正常变化的情况。 |